Ort:  Halle (Saale)
Datum:  21.02.2025

FIB-Ingenieur (m/w/d) für Halbleiterdiagnostik und Probenvorbereitung

Die Fraunhofer-Gesellschaft (www.fraunhofer.de) betreibt in Deutschland derzeit 76 Institute und Forschungseinrichtungen und ist eine der führenden Organisationen für anwendungsorientierte Forschung. Rund 32 000 Mitarbeitende erarbeiten das jährliche Forschungsvolumen von 3,4 Milliarden Euro.  

Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS in Halle (Saale) ist ein führendes Forschungszentrum in der Materialwissenschaft und Werkstofftechnik. In unserer Abteilung »Diagnostik von Halbleitertechnologien« gestalten wir die Zukunft der Halbleitertechnologie durch die Untersuchung und Entwicklung innovativer Fehlerdiagnosetechniken. Wir liefern damit einen entscheidenden Beitrag zur Qualitätssicherung in der Elektronikindustrie.


Wir suchen zum 01.06.2025 einen engagierten FIB-Ingenieur (w/m/d), die/der die spannende Herausforderung der Fehlerdiagnostik an Halbleiterbauelementen übernimmt. Sie haben die Möglichkeit, an innovativen Projekten mit neuesten Technologien zu arbeiten und aktiv zur Weiterentwicklung der Halbleiterdiagnosetechniken beizutragen.

 

Was Sie bei uns tun

 

  • Fehlerdiagnostik und Analyse:
    • Durchführung von Fehleranalysen an Halbleiterbauelementen mit fokussierender Ionenstrahltechnik (FIB) und Rasterelektronenmikroskopie (REM)
    • Planung und Durchführung optischer Untersuchungen (Licht, Ionen, Elektronen) zur Charakterisierung und Fehleranalyse von Halbleiterbauelementen, wie integrierten Schaltungen (ICs) und GaN HEMTs
    • Interpretation der Ergebnisse, Erstellung von Berichten und Kommunikation mit Auftraggebern
  • Probenvorbereitung:
    • Anwendung von FIB-Techniken zur gezielten Vorbereitung von Proben für die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
    • FIB-Präparation von TEM-Lamellen zur Analyse von Defektstellen und Halbleiterstrukturen, einschließlich Defektscreening und Poliertechniken
  • Entwicklung neuer Techniken:
    • Weiterentwicklung von FIB-basierten Präparationstechniken, einschließlich innovativer Strategien wie Laser-Vorpräparation und lift-out Techniken, um die Effizienz und Qualität der Probenvorbereitung zu verbessern

 

Was Sie mitbringen

 

  • Abgeschlossenes Hochschulstudium in Physik, Chemie, Materialwissenschaften, Werkstofftechnik oder in einem angrenzenden Fachbereich
  • Gute Deutsch- und Englischkenntnisse in Wort und Schrift
  • Praktische Erfahrung und nachgewiesene Kompetenzen im Bereich der Fehlerdiagnostik an Halbleitertechnologien mit Schwerpunkt auf fokussierender Ionenstrahltechnik und Elektronenmikroskopie
  • Ausgeprägte Fähigkeit zum projektorientierten Arbeiten, verbunden mit einem hohen Maß an Verantwortungsbewusstsein und Selbstständigkeit
  • Teamfähigkeit und die Bereitschaft zur aktiven Mitgestaltung, Zusammenarbeit und zum Wissensaustausch innerhalb interdisziplinärer Teams
  • Interesse an anwendungsorientierten Forschungsarbeiten sowie der Zusammenarbeit mit Industriepartern

 

Was Sie erwarten können

 

  • Mitarbeit in einem offenen und internationalen Arbeitsumfeld innerhalb einer renommierten Forschungseinrichtung
  • Wir legen großen Wert auf Work-Life-Balance und bieten flexible Arbeitszeiten sowie Unterstützungsangebote zur Vereinbarkeit von Familie und Beruf.
  • Individuell angepasste Soft-Skill-Trainings und fachliche Weiterbildungen, um Ihr Potenzial zu entfalten und bei uns einzubringen
  • Ein unterstützendes und kreatives Team, das Innovationen vorantreibt und eng zusammenarbeitet
  • Diversität als wichtiges strategisches Ziel und gelebte Chancengleichheit
  • Attraktive Corporate-Benefits bei ausgewählten Partnerunternehmen und ein vergünstigtes Jobticket

 

Wir wertschätzen und fördern die Vielfalt der Kompetenzen unserer Mitarbeitenden und begrüßen daher alle Bewerbungen – unabhängig von Alter, Geschlecht, Nationalität, ethnischer und sozialer Herkunft, Religion, Weltanschauung, Behinderung sowie sexueller Orientierung und Identität. Schwerbehinderte Menschen werden bei gleicher Eignung bevorzugt eingestellt. 

 

Die Stelle ist zunächst auf zwei Jahre befristet. Die wöchentliche Arbeitszeit beträgt 39 Stunden in Vollzeit. Eine Reduzierung auf Teilzeit ist jederzeit möglich.

 

Mit ihrer Fokussierung auf zukunftsrelevante Schlüsseltechnologien sowie auf die Verwertung der Ergebnisse in Wirtschaft und Industrie spielt die Fraunhofer-Gesellschaft eine zentrale Rolle im Innovationsprozess. Als Wegweiser und Impulsgeber für innovative Entwicklungen und wissenschaftliche Exzellenz wirkt sie mit an der Gestaltung unserer Gesellschaft und unserer Zukunft. 

 

Haben wir Ihr Interesse geweckt? Dann bewerben Sie sich jetzt online mit Ihren aussagekräftigen Bewerbungsunterlagen. Wir freuen uns darauf, Sie kennenzulernen! 
 

Fragen zu dieser Position beantwortet Ihnen gern:

 

Frank Altmann

Gruppenleiter »Diagnostik Halbleitertechnologien«

Tel. 0345 5589-139

frank.altmann@imws.fraunhofer.de

 

Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS 

www.imws.fraunhofer.de 


Kennziffer: 78485                Bewerbungsfrist: 08.03.2025