FIB-Ingenieur (m/w/d) für Halbleiterdiagnostik und Probenvorbereitung
Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS in Halle (Saale) ist ein führendes Forschungszentrum in der Materialwissenschaft und Werkstofftechnik. In unserer Abteilung »Diagnostik von Halbleitertechnologien« gestalten wir die Zukunft der Halbleitertechnologie durch die Untersuchung und Entwicklung innovativer Fehlerdiagnosetechniken. Wir liefern damit einen entscheidenden Beitrag zur Qualitätssicherung in der Elektronikindustrie.
Wir suchen zum 01.06.2025 einen engagierten FIB-Ingenieur (w/m/d), die/der die spannende Herausforderung der Fehlerdiagnostik an Halbleiterbauelementen übernimmt. Sie haben die Möglichkeit, an innovativen Projekten mit neuesten Technologien zu arbeiten und aktiv zur Weiterentwicklung der Halbleiterdiagnosetechniken beizutragen.
Was Sie bei uns tun
Was Sie mitbringen
Was Sie erwarten können
Wir wertschätzen und fördern die Vielfalt der Kompetenzen unserer Mitarbeitenden und begrüßen daher alle Bewerbungen – unabhängig von Alter, Geschlecht, Nationalität, ethnischer und sozialer Herkunft, Religion, Weltanschauung, Behinderung sowie sexueller Orientierung und Identität. Schwerbehinderte Menschen werden bei gleicher Eignung bevorzugt eingestellt.
Die Stelle ist zunächst auf zwei Jahre befristet. Die wöchentliche Arbeitszeit beträgt 39 Stunden in Vollzeit. Eine Reduzierung auf Teilzeit ist jederzeit möglich.
Mit ihrer Fokussierung auf zukunftsrelevante Schlüsseltechnologien sowie auf die Verwertung der Ergebnisse in Wirtschaft und Industrie spielt die Fraunhofer-Gesellschaft eine zentrale Rolle im Innovationsprozess. Als Wegweiser und Impulsgeber für innovative Entwicklungen und wissenschaftliche Exzellenz wirkt sie mit an der Gestaltung unserer Gesellschaft und unserer Zukunft.
Haben wir Ihr Interesse geweckt? Dann bewerben Sie sich jetzt online mit Ihren aussagekräftigen Bewerbungsunterlagen. Wir freuen uns darauf, Sie kennenzulernen!
Fragen zu dieser Position beantwortet Ihnen gern: Frank Altmann Gruppenleiter »Diagnostik Halbleitertechnologien« Tel. 0345 5589-139 frank.altmann@imws.fraunhofer.de
Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS
Kennziffer: 78485 Bewerbungsfrist: 08.03.2025